Control de calidad
Proceso de control de calidad
Toda la máquina saldrá de la fábrica sólo después de pasar control de calidad. 
Nuestros certificados
CE
- Número de Certificado:M.2019.206.C3341
- Fecha de emisión:2019-10-28
- Fecha de vencimiento:2024-10-28
- Alcance:Coil Expanding Machine:EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
CE
- Número de Certificado:M.2020.206.C5694
- Fecha de emisión:2020-06-11
- Fecha de vencimiento:2025-07-13
- Alcance:Vertial Winding Machine:EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
CE
- Número de Certificado:M.2020.206.C5694
- Fecha de emisión:2020-04-15
- Fecha de vencimiento:2025-04-15
- Alcance:Servo Coil Inserting Machine:EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
CE
- Número de Certificado:M.2020.206.c5693
- Fecha de emisión:2020-04-15
- Fecha de vencimiento:2025-04-15
- Alcance:Slot Insulation Machine::EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
CE
- Número de Certificado:M.2020.206.C6549
- Fecha de emisión:2020-05-24
- Fecha de vencimiento:2025-05-24
- Alcance:Lacing Machine:EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
CE
- Número de Certificado:M.2020.206.C6550
- Fecha de emisión:2020-05-24
- Fecha de vencimiento:2025-05-24
- Alcance:Coil Forming MachineL:EN60204-1:2006+A1:2009+AC:2010,EN ISO 12100:2010
- Escrito por:UDEM
Patent
- Número de Certificado:ZL 20161 0994247.9
- Fecha de emisión:2019-01-04
- Alcance:Automatic Winding Machine
- Escrito por:SGS
Patent
- Número de Certificado:ZL 2016 1 0994249.8
- Fecha de emisión:2019-02-05
- Alcance:Double Head Winding Machine
- Escrito por:STATE INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE OF THE P.RC
Patent
- Número de Certificado:ZL2014 1 0228751.9
- Fecha de emisión:2014-05-27
- Alcance:Multi station winding machine
ISO9001
- Número de Certificado:CN00015058
- Fecha de emisión:2013-10-14
- Fecha de vencimiento:2016-03-20
- Alcance:Research & Development,Manufacture and Sales of Induction Motor Production Equipment
- Escrito por:NSF ISR
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